Keithley SourceMeter 光儀器
通過 Keithley 儀器，可以輕松構建 LIV（光功率-電流-電壓）系統，從而經濟高效地測試激光二極管模塊。
2520 脈沖激光二極管測試系統：同步測試系統，為脈沖和連續 LIV 測試提供純源化和測量功能。
TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT：確保通過控制其熱電冷卻器，為激光二極管模塊提供嚴格的溫度控制。

更新時間：2022-10-21

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Keithley SourceMeter 光儀器

通過 Keithley 儀器，可以輕松構建 LIV（光功率-電流-電壓）系統，從而經濟高效地測試激光二極管模塊。

Keithley SourceMeter 光儀器

功能	優勢
主動溫度控制	防止溫度變化可能引起激光二極管主輸出波長發生變化，導致出現信號重疊和串擾問題。
50W TEC 控制器	比其他低功耗解決方案提供更高的測試速度和更寬的溫度設定值范圍。
全數字 P-I-D 控制	提供更高的溫度穩定性，并可通過簡單的固件變化輕松升級。
適用于熱控制環路的自動調諧功能 (2510-AT)	無需反復試驗即可確定 P、I 和 D 系數的較好組合。
寬溫度設定值范圍（–50°C 至 +225°C）以及高設定值分辨率 (±0.001°C) 和穩定性 (±0.005°C)	能夠滿足大部分冷卻光學元器件和子裝配件生產測試的測試要求。
兼容于多種溫度傳感器輸入 — 熱敏電阻、RTD 和 IC 傳感器	適合常用于各類激光二極管模塊的溫度傳感器類型。
交流歐姆測量功能	驗證 TEC 器件的完整性。
適用于熱反饋元件的四線開路/短路引線檢測	消除引線電阻測量值誤差，減少假故障或設備損壞的可能性。